工作职责
1. 负责芯片后端测试方案设计,涵盖scan、MemoryBIST/BISR、JTAG、BoundaryScan等内容;
2. 开展DFT设计技术研究,持续优化芯片测试策略与实施流程;
3. 参与scan及MemoryBIST/BISR集成相关工具的自动化开发与自主化建设。
任职资格
1. 电子工程、微电子等相关专业本科及以上学历,需具备2年以上相关领域工作经验;
2. 熟练掌握各类DFT设计技术,包括JTAG、ATPG、Scan、MemoryBIST、faultmodel等;
3. 掌握形式验证方法,能够完成pre-DFT与post-DFT阶段的逻辑一致性比对;
4. 熟练使用tcl/tk或perl脚本语言,熟悉Linux/Unix环境下shell编程;
5. 具备必要的集成电路设计能力:如verilog/VHDL/RTL代码编写及VCS工具应用等;
6. 能够配合ATE测试工作,具有芯片批量生产测试经验者优先考虑;
7. 具备独立开展工作的能力与快速学习意识,拥有良好的团队协作、沟通表达及工作积极性。
【工作内容】1. 负责芯片后端测试方案设计,涵盖scan、MemoryBIST/BISR、JTAG、BoundaryScan等内容;2. 开展DFT设计技术研究,持续优化芯片测试策略与实施流程;3. 参与scan及MemoryBIST/BISR集成相关工具的自动化开发与自主化建设。
【基本条件】1. 电子工程、微电子等相关专业本科及以上学历,需具备2年以上相关领域工作经验;2. 熟练掌握各类DFT设计技术,包括JTAG、ATPG、Scan、MemoryBIST、faultmodel等;3. 掌握形式验证方法,能够完成pre-DFT与post-DFT阶段的逻辑一致性比对;4. 熟练使用tcl/tk或perl脚本语言,熟悉Linux/Unix环境下shell编程;5. 具备必要的集成电路设计能力:如verilog/VHDL/RTL代码编写及VCS工具应用等;6. 能够配合ATE测试工作,具有芯片批量生产测试经验者优先考虑;7. 具备独立开展工作的能力与快速学习意识,拥有良好的团队协作、沟通表达及工作积极性。