岗位职责
1. 方案设计:主导芯片DFT架构规划,制定SCAN、MBIST、JTAG等可测性设计方案及测试策略,输出设计规范。
2. 逻辑实现与验证:完成DFT逻辑集成、RTL约束编写,执行ATPG向量生成、故障仿真及时序分析,确保设计功能与时序收敛。
3. 测试优化:分析测试覆盖率盲点,优化测试向量、功耗与时间,满足量产测试要求。
4. 跨团队协同:联动前后端及ATE团队,支持CP/FT量产测试、芯片回片调试与良率提升,定位并解决联调问题。
5. 流程优化:维护DFT工具环境,编写自动化脚本,提升设计效率与交付质量。
6. 文档交付:输出DFT设计文档、测试报告,跟进芯片测试问题并完成根因分析与整改。
任职要求
1. 学历与经验:硕士及以上学历,微电子、集成电路等相关专业,5年以上数字芯片DFT设计经验。
2. 技术能力:精通SCAN、MBIST、JTAG等DFT技术,熟悉IEEE 1149.1标准;熟练使用Tessent、TetraMax等工具,掌握DC、STA流程。
3. 开发技能:具备Verilog/SystemVerilog基础,能编写RTL与时序约束;熟悉TCL/Python/Perl脚本自动化。
4. 项目经验:有SoC/MCU或数模混合芯片DFT实现、ATE联调及量产良率提升经验者优先。
5. 综合素质:严谨细致,具备强问题分析、跨团队协作能力。