IONTOF是由Alfred Benninghoven教授，Dr.Ewald Niehuis和Thomas Heller先生于1989年创立，创始人Prof.Benninghoven教授是国际静态二次离子质谱的奠基人，他们团队始终带领国际二次离子术的发展，从上世纪80年代初开始，Benninghoven教授和他的研究组就致力于飞行时间二次离子质谱的系统和应用研究。依托于明斯特大学和州纳米中心的技术和人才优势，TOF-SIMS已经发展成为无可替代的表面分析手段。世界范围内安装运行700套；市场占有率超85%，发表文章的90%以上来源于IONTOF用户。北京艾飞拓科技有限公司，2012年成立，德国 IONTOF公司的中国办事处。负责ToF-SIMS、LEIS在中国大陆及港澳地区的销售、售后、宣传、培训、技术服务等工作。公司成员来自北京大学、中科院物理所等一流院校研究生，密切与国内多所高校、研究机构、科技公司合作，共同攻克技术难题。
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